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典型應(yīng)用
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增益壓縮二維掃描，提高測試效率
放大器等有源器件的增益壓縮測量應(yīng)用（S86選件）僅需一次設(shè)置，一次連接，一次校準(zhǔn)就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)（包括壓縮點的輸入功率，壓縮點的輸出功率，壓縮點的增益等）和線性參數(shù)（包括線性增益，輸入匹配，輸出匹配等）。具有：
? 快速準(zhǔn)確的智能掃描；
? 一目了然的向?qū)?zhǔn)；
? 方便快捷的USB電子校準(zhǔn)，USB功率校準(zhǔn)；
? 二維掃描（頻率點掃功率和功率點掃頻率）一次完成；
? 多種壓縮方法——從線性/最大增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。
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混頻器/變頻器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀四端口測量功能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內(nèi)置雙源，可以完成混頻器/變頻器標(biāo)量和矢量參數(shù)測試。
1）混頻器/變頻器標(biāo)量參數(shù)測量
混頻器/變頻器標(biāo)量測量應(yīng)用選件（S82選件）可以得到頻域的所有標(biāo)量參數(shù)（包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等）。相比以往測試方法其優(yōu)勢在于：
? 一次連接設(shè)置，多參數(shù)測試一次性完成；
? 人性化簡易的校準(zhǔn)界面；
? 方便快捷的USB電子校準(zhǔn)件校準(zhǔn)，USB功率探頭功率校準(zhǔn)；
? 內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；
? 基于端口匹配的功率校準(zhǔn)技術(shù)；
? 為用戶解決高準(zhǔn)確度的混頻器標(biāo)量參數(shù)測試需求。
2）混頻器/變頻器矢量參數(shù)測量
矢量混頻/變頻器件測試應(yīng)用選件（S83選件）集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試應(yīng)用軟件。其主要特點包括：
? 測量過程需使用一個參考混頻器進(jìn)行表征；
? 內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；
? 測試參數(shù)全面，相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。
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濾波器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有濾波器測試菜單，可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標(biāo)（包括帶寬，中心頻點頻率、Q值，左截止頻率、右截止頻率等）和阻帶指標(biāo)（包括動態(tài)范圍，隔離度等）。具有：
? 快速準(zhǔn)確的分段掃描；
? 一目了然的校準(zhǔn)向?qū)В?/span>
? 快捷的高精度電子校準(zhǔn)技術(shù)；
? 通帶和阻帶指標(biāo)一次測量完成。
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一體化脈沖S參數(shù)測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有脈沖調(diào)制信號輸出，可以完成脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測試。具有：
? 內(nèi)置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器，端口1、3可輸出脈沖調(diào)制信號；
? 完整的脈沖解決方案，可在寬帶模式和窄帶模式下進(jìn)行脈沖內(nèi)定點、脈沖包絡(luò)和掃頻脈沖測量；
? 可與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器同步，實現(xiàn)復(fù)雜脈沖同步測試。
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自動化測試
通過GPIB總線接口、網(wǎng)口提供靈活多樣的控制方式，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可。為您提供一體化自動測試方案，包括自動校準(zhǔn)、自動測量、自動讀取、自動打印等。具有：
? 簡單的控制方式，一根網(wǎng)線、一個GPIB卡；
? 有效的降低成本，解放有限的人力資源；
? 在有效的時間內(nèi)完成更多的測試，大大縮短開發(fā)周期；
? 完成人工不可能完成的任務(wù)，如精確時間控制，復(fù)雜環(huán)境下的測試等。
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噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀噪聲系數(shù)選件（003選件），結(jié)合矢量誤差修正和獨特的源端調(diào)配校準(zhǔn)方法，提供高精度的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測量功能。
噪聲系數(shù)測量選件（003選件）可以得到被測件的噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、噪聲功率參數(shù)和噪聲相關(guān)矩陣，相比以往測試方法其優(yōu)勢在于：
? 一次連接設(shè)置，噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)和S參數(shù)等多種參數(shù)測試一次性完成；
? 較小噪聲系數(shù)的精確測量；
? 測量范圍大（0dB~55dB）；
? 可用于芯片在片噪聲系數(shù)的精確測量；
? 可用于夾具、測試系統(tǒng)等場景下噪聲系數(shù)的精確測量。
