產品綜述
6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用于高速電光器件（電光強度調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。
功能特點
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主要特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
最小頻率分辨率1Hz；
測試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數測試功能；
一體化多功能測試界面；
向導式校準及一鍵式快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動夾具移除，快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實現自動測試
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10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋
6433P光波元件分析儀調制頻率最高可達110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器件及光芯片調制特性測試。
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一體化多功能測試向導界面
6433P光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設置。
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向導式校準及一鍵式測試
6433P光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案，利用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。
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多窗口快速顯示及分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。
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自動夾具移除，快速獲取探針數據
6433P光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。
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型號 |
調制頻率范圍 |
工作波長 |
光功率測試范圍 |
動態范圍 |
對比 |
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